10hz-2mhz अर्धचालक सी-वी विशेषता विश्लेषक सीवी विश्लेषक क्षमता वोल्टेज विश्लेषक
वर्ग:
माइक्रो ओम परीक्षक
विशेष विवरण
प्रमुखता देना:
परिचय
TH511 10Hz-2MHz सेमीकंडक्टर सी-वी विशेषता विश्लेषक सीवी विश्लेषक
डीसी बायस करंट सोर्स एक इलेक्ट्रॉनिक उपकरण है जो इलेक्ट्रॉनिक घटकों और सर्किटों को बायस करने के लिए एक निरंतर और समायोज्य सीधी धारा (डीसी) प्रदान करता है।यह आम तौर पर विभिन्न अनुप्रयोगों में उपयोग किया जाता है जहां एक डीसी पूर्वाग्रह की आवश्यकता होती है, जैसे इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों के परीक्षण, विशेषता और कैलिब्रेशन में
विशेषताएं
• 10.1 इंच का कैपेसिटिव टच स्क्रीन, रिज़ॉल्यूशन 1280*800, लिनक्स सिस्टम
• दोहरी सीपीयू आर्किटेक्चर, एलसीआर फ़ंक्शन की सबसे तेज परीक्षण गति 0.56ms है
• तीन परीक्षण विधियाँः स्पॉट परीक्षण, सूची स्कैन और ग्राफिक स्कैन (वैकल्पिक)
• एक ही स्क्रीन पर चार परजीवी मापदंडों (Ciss, Coss, Crss, Rg) को मापा और प्रदर्शित किया जाता है
• CV वक्र स्कैन, Ciss-Rg वक्र स्कैन
• एकीकृत डिजाइनः एलसीआर + वीजीएस निम्न वोल्टेज स्रोत + वीडीएस उच्च वोल्टेज स्रोत + चैनल स्विचिंग + पीसी
• मानक 2-चैनल परीक्षण, जो एक ही समय में दो उपकरणों या दो-चिप उपकरणों का परीक्षण कर सकता है, चैनल का विस्तार 6 तक किया जा सकता है, चैनल पैरामीटर अलग से संग्रहीत किए जाते हैं
• तेज़ चार्जिंग, कैपेसिटर चार्जिंग समय को छोटा करती है और तेज़ परीक्षण की अनुमति देती है
• स्वतः विलंब सेटिंग
• उच्च पूर्वाग्रहः वीजीएसः 0 - ± 40 वी, वीडीएसः 0 - 200 वी / 1500 वी / 3000 वी
• 10 डिब्बों की छँटाई
आवेदन
• अर्धचालक घटक/शक्ति घटक
डायोड, ट्रायड, एमओएसएफईटी, आईजीबीटी, थाइरिस्टर्स, एकीकृत सर्किट, ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक चिप्स आदि के परजीवी क्षमता परीक्षण और सीवी विशेषता विश्लेषण
• अर्धचालक सामग्री
वेफर, सी-वी विशेषता विश्लेषण
• तरल क्रिस्टल सामग्री
लोचदार स्थिरांक विश्लेषण
• संक्षारक तत्व
संधारित्र सी-वी विशेषता परीक्षण और विश्लेषण, क्षमता सेंसर परीक्षण और विश्लेषण
विनिर्देश
| मॉडल | TH511 | TH512 | TH513 | ||||
| नहर | 2 (4/6 Ch वैकल्पिक) | 2 | |||||
| प्रदर्शन | प्रदर्शन | 10.1 इंच का कैपेसिटिव टचस्क्रीन | |||||
| अनुपात | 0.672916667 | ||||||
| संकल्प | 1280*आरजीबी*800 | ||||||
| परीक्षण पैरामीटर | Ciss, Coss, Crss, Rg. चार पैरामीटर मनमाने ढंग से चयन योग्य | ||||||
| परीक्षण आवृत्ति | रेंज | 1kHz-2MHz | |||||
| सटीकता | 0.0001 | ||||||
| संकल्प | 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | ||||||
| 100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz | |||||||
| 1 हर्ट्ज 100,000 kHz-999.999 kHz | |||||||
| 10 हर्ट्ज 1.00000 मेगाहर्ट्ज-2.00000 मेगाहर्ट्ज | |||||||
| परीक्षण स्तर | वोल्टेज रेंज | 5mVrms-2Vrms | |||||
| सटीकता | ± (10%*सेट वैल्यू+2mV) | ||||||
| संकल्प | 1mVrms 5mVrms-1Vrms | ||||||
| 10mVrms 1Vrms-2Vrms | |||||||
| वीजीएस | रेंज | 0 - ±40V | |||||
| सटीकता | 1%* सेटिंग वोल्टेज+8mV | ||||||
| संकल्प | 1mV 0V - ±10V | ||||||
| 10mV ±10V - ±40V | |||||||
| वीडीएस | रेंज | 0- 200 वोल्ट | 0 से 1500 वोल्ट | 0 - 3000 वोल्ट | |||
| सटीकता | 1%* सेटिंग वोल्टेज+100mV | ||||||
| आउटपुट प्रतिबाधा | 100Ω, ± 2%@1kHz | ||||||
| गणना | नाममात्र मूल्य से पूर्ण विचलन Δ, नाममात्र मूल्य से प्रतिशत विचलन Δ% | ||||||
| कैलिब्रेशन फंक्शन | खुला, संक्षिप्त, लोड | ||||||
| माप औसत | 1-255 बार | ||||||
| एडी रूपांतरण समय (एमएस/समय) | तेज़+: 0.56ms (>5kHz), तेज़ः 3.3ms, मध्यमः 90ms, धीमाः 220ms। | ||||||
| बुनियादी सटीकता | 0.001 | ||||||
| Ciss, Coss, Crss | 0.00001pF - 9.99999F | ||||||
| आरजी | 0.001mΩ - 99.9999MΩ | ||||||
| Δ% | ± 0.0000% - 999.9%) | ||||||
| बहु-कार्य पैरामीटर सूची स्कैन करें | धब्बे | 20 स्पॉट, औसत संख्या प्रत्येक स्पॉट के लिए सेट किया जा सकता है, और प्रत्येक स्पॉट अलग से क्रमबद्ध किया जा सकता है | |||||
| पैरामीटर | परीक्षण आवृत्ति, वीजी, वीडी, चैनल | ||||||
| ट्रिगर मोड | अनुक्रम SEQ: एक ट्रिगर के बाद, सभी स्वीप बिंदुओं पर मापें, /EOM/INDEX आउटपुट केवल एक बार। चरणः ट्रिगर प्रति एक स्वीप बिंदु माप करने के लिए, प्रत्येक बिंदु आउटपुट / EOM/INDEX, लेकिन सूची स्कैन तुलनाकर्ता परिणाम केवल पिछले / EOM पर आउटपुट है |
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| ग्राफिक स्कैन | स्कैनिंग स्पॉट | कोई भी स्पॉट वैकल्पिक है, 1001 स्पॉट तक | |||||
| परिणाम प्रदर्शित करना | एक ही पैरामीटर और अलग-अलग Vg के साथ कई वक्र; एक ही Vg और विभिन्न मापदंडों के साथ कई वक्र। |
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| प्रदर्शन रेंज | वास्तविक समय में स्वचालित, लॉक | ||||||
| समन्वय शासक | लघुगणक, रैखिक | ||||||
| पैरामीटर | Vg, Vd | ||||||
| ट्रिगर मोड | एकल | एक बार मैनुअल ट्रिगर, प्रारंभ स्थान से अंत स्थान के लिए एक स्कैन पूरा करें, और अगले ट्रिगर संकेत के साथ एक नया स्कैन शुरू | |||||
| निरंतर | प्रारंभ बिंदु से अंत बिंदु तक अनंत लूप स्कैन | ||||||
| परिणाम भंडारण | ग्राफिक्स, फाइलें | ||||||
| तुलनाकार | डिब्बा | 10Bin, पास, असफल | |||||
| बिन विचलन सेटिंग | विचलन, प्रतिशत विचलन, बंद | ||||||
| बिन मोड | सहिष्णुता, निरंतर | ||||||
| बिन गिनती | 0-99999 | ||||||
| बिन निर्णय | प्रत्येक बिन के लिए अधिकतम चार पैरामीटर सीमा सीमाएं निर्धारित की जा सकती हैं। संबंधित बिन संख्या चार परीक्षण पैरामीटर परिणामों की सेटिंग सीमा के भीतर प्रदर्शित की जाएगी।यदि यह सेट अधिकतम बिन संख्या सीमा से अधिक है, विफलता प्रदर्शित होगी. ऊपरी और निचली सीमाओं के बिना परीक्षण मापदंडों को स्वचालित रूप से अनदेखा किया जाएगा. | ||||||
| पास/फेल संकेत | संतुष्ट Bin1-10, सामने के पैनल पर पास प्रकाश चालू है, अन्यथा विफलता प्रकाश चालू है। | ||||||
| डेटा भंडारण | 201 माप के परिणामों को बैचों में पढ़ा जा सकता है | ||||||
| भंडारण फ़ाइल | आंतरिक | लगभग 100M गैर अस्थिर स्मृति परीक्षण सेटअप फ़ाइल | |||||
| बाहरी यूएसबी | परीक्षण सेटअप फ़ाइलें, स्क्रीनशॉट, लॉग फ़ाइलें | ||||||
| कीबोर्ड लॉक | लॉक करने योग्य फ्रंट पैनल बटन, अन्य कार्यों का विस्तार किया जाना है | ||||||
| इंटरफेस | यूएसबी होस्ट | 2 USB HOST इंटरफेस, जो माउस और कीबोर्ड से एक साथ जुड़े जा सकते हैं, और एक ही समय में केवल एक यू डिस्क का उपयोग किया जा सकता है | |||||
| यूएसबी डिवाइस | यूनिवर्सल सीरियल बस सॉकेट, छोटा प्रकार B (4 संपर्क स्थान); USB TMC-USB488 और USB2 के अनुरूप।0, बाहरी नियंत्रकों को जोड़ने के लिए महिला कनेक्टर। | ||||||
| लैन | 10/100M ईथरनेट, 8 पिन, दो गति विकल्प | ||||||
| हैंडलर | बिन सिग्नल आउटपुट के लिए प्रयुक्त | ||||||
| RS232C | मानक 9-पिन, क्रॉस | ||||||
| RS485 | RS232 से RS485 मॉड्यूल के लिए संशोधन या बाहरी प्राप्त कर सकते हैं | ||||||
| बूट वार्म-अप समय | 60 मिनट | ||||||
| इनपुट वोल्ट | 100-120VAC/198-242VAC विकल्प, 47-63Hz | ||||||
| बिजली की खपत | 130VA से अधिक | ||||||
| आयाम (W*H*D) मिमी | 430*177*405 | ||||||
| वजन | 12 किलो | ||||||
सहायक उपकरण
| मानक | ||||||
| सहायक उपकरण का नाम | मॉडल | |||||
| परीक्षण उपकरण | TH26063B | |
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| परीक्षण उपकरण | TH26063C | |
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| TH510 फिक्स्चर कंट्रोल कनेक्शन केबल | TH26063D | |
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| TH510 परीक्षण विस्तार केबल | TH26063G | |
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