अर्धचालक पैरामीटर विश्लेषक दोहरी सीपीयू अधिकतम वोल्टेज 40V एलसीआर 0.56ms 10 बिन

TH511 सेमीकंडक्टर सीवी विश्लेषक: दोहरी सीपीयू, अधिकतम वोल्टेज ±40V, एलसीआर 0.56ms, 10 बिन

1. परीक्षण और विशेषता में अनुप्रयोग: डीसी बायस करंट सोर्स का प्रयोग इलेक्ट्रॉनिक घटकों जैसे ट्रांजिस्टर, डायोड,एकीकृत सर्किट (IC)यह विशिष्ट पूर्वाग्रह परिस्थितियों में डिवाइस व्यवहार का आकलन करने में सक्षम बनाता है, लाभ, रैखिकता, रिसाव वर्तमान और सीमा वोल्टेज जैसे मापदंडों के माप को सुविधाजनक बनाता है।अतिरिक्त, इसका उपयोग माप उपकरण के कैलिब्रेशन में किया जाता है, जिससे सटीक और ट्रैक करने योग्य परिणाम सुनिश्चित होते हैं।

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विशेषताएं

10.1-इंच क्षमता टच स्क्रीन, रिज़ॉल्यूशन 1280*800, लिनक्स सिस्टम

दोहरी सीपीयू आर्किटेक्चर, एलसीआर फ़ंक्शन की सबसे तेज परीक्षण गति 0.56ms है

तीन परीक्षण विधियाँः स्पॉट परीक्षण, सूची स्कैन और ग्राफिक स्कैन (वैकल्पिक)

एक ही स्क्रीन पर चार परजीवी मापदंडों (Ciss, Coss, Crss, Rg) को मापा और प्रदर्शित किया जाता है

सीवी वक्र स्कैन, सीआईएस-आरजी वक्र स्कैन

एकीकृत डिजाइनः एलसीआर + वीजीएस निम्न वोल्टेज स्रोत + वीडीएस उच्च वोल्टेज स्रोत + चैनल स्विचिंग + पीसी

मानक 2-चैनल परीक्षण, जो एक ही समय में दो उपकरणों या दोहरी चिप उपकरणों का परीक्षण कर सकते हैं, चैनल 6 तक विस्तारित किया जा सकता है, चैनल पैरामीटर अलग से संग्रहीत कर रहे हैं

तेज़ चार्जिंग, कैपेसिटर चार्जिंग समय को छोटा करती है और तेज़ परीक्षण की अनुमति देती है

स्वतः विलंब सेटिंग

उच्च पूर्वाग्रहः वीजीएसः 0 - ±40 वी, वीडीएसः 0 - 200 वी/1500 वी/3000 वी

10 डिब्बों की छँटाई

आवेदन

अर्धचालक घटक/शक्ति घटक

डायोड, ट्रायड, एमओएसएफईटी, आईजीबीटी, थाइरिस्टर्स, एकीकृत सर्किट, ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक चिप्स आदि के परजीवी क्षमता परीक्षण और सीवी विशेषता विश्लेषण

अर्धचालक सामग्री

वेफर, सी-वी विशेषता विश्लेषण

तरल क्रिस्टल सामग्री

लोचदार स्थिरांक विश्लेषण

क्षमतात्मक तत्व

संधारित्र सी-वी विशेषता परीक्षण और विश्लेषण, क्षमता सेंसर परीक्षण और विश्लेषण

विनिर्देश